Publikace UTB
Repozitář publikační činnosti UTB

Thickness effect on structural defect-related density of states and crystallinity in P3HT thin films on ITO substrates

Repozitář DSpace/Manakin


Find Full text Export to RefWorks
   

 

Soubory tohoto záznamu

Citace ČSN ISO 690:2011

Citace článku v časopise:
NÁDAŽDY, Vojtech, Katarina GMUCOVÁ, Peter NÁDAŽDY, Peter SIFFALOVIC, Karol VEGSO, Matej JERGEL, František SCHAUER a Eva MAJKOVÁ. Thickness effect on structural defect-related density of states and crystallinity in P3HT thin films on ITO substrates. Journal of Physical Chemistry C [online]. 2018, vol. 122, iss. 11, s. 5881-5887. [cit. 2024-05-30]. ISSN 1932-7447. Dostupné z: https://pubs.acs.org/doi/10.1021/acs.jpcc.7b11651.

Tyto citace vytvořil software a mohou obsahovat chyby. Pro ověření přesnosti si nastudujte příslušnou citační normu nebo příručku.

Související články