Statistiky

Návštěvy celkem

Zobrazení
Quality control in microelectronics using scanning probe microscopy 767

Návštěvy celkem za měsíc

březen 2026 duben 2026 květen 2026 červen 2026 červenec 2026 srpen 2026 září 2026
Quality control in microelectronics using scanning probe microscopy 21 4 11 9 13 4 3

Stažení souborů

Zobrazení
Fulltext_1006592.pdf 2

Nejvíce zobrazení ze země

Zobrazení
United States 549
Germany 42
China 19
Vietnam 18
Japan 17
Sweden 13
Ireland 11
Argentina 10
India 8
Brazil 7

Nejvíce zobrazení z města

Zobrazení
Ashburn 285
San Mateo 34
Fairfield 31
Louisville 30
Mountain View 18
Tokyo 17
Cambridge 14
Hanoi 14
San Jose 13
Menlo Park 10