Statistiky

Návštěvy celkem

Zobrazení
Quality control in microelectronics using scanning probe microscopy 760

Návštěvy celkem za měsíc

leden 2026 únor 2026 březen 2026 duben 2026 květen 2026 červen 2026 červenec 2026
Quality control in microelectronics using scanning probe microscopy 8 9 21 4 11 9 13

Stažení souborů

Zobrazení
Fulltext_1006592.pdf 2

Nejvíce zobrazení ze země

Zobrazení
United States 544
Germany 42
China 19
Vietnam 18
Japan 17
Sweden 13
Ireland 11
Argentina 9
India 8
Brazil 7

Nejvíce zobrazení z města

Zobrazení
Ashburn 285
San Mateo 34
Fairfield 31
Louisville 30
Mountain View 17
Tokyo 17
Cambridge 14
Hanoi 14
San Jose 13
Menlo Park 10