Publikace UTB
Repozitář publikační činnosti UTB

The effect of scratching direction in AFM nanolithography

Repozitář DSpace/Manakin


Find Full text Export to RefWorks
   


Soubory tohoto záznamu

Citace ČSN ISO 690:2011

Citace článku v konferenčním sborníku:
KUDĚLKA, Josef, Tomáš MARTÍNEK, Milan NAVRÁTIL a Vojtěch KŘESÁLEK. The effect of scratching direction in AFM nanolithography. In: 7th International Conference on Information Science and Technology, ICIST 2017 - Proceedings [online]. Da Nang: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2017, s. 331-334. [cit. 2017-09-26]. ISSN 2164-4357. Dostupné z: http://ieeexplore.ieee.org/abstract/document/7926779/.

Tyto citace vytvořil software a mohou obsahovat chyby. Pro ověření přesnosti si nastudujte příslušnou citační normu nebo příručku.

Související články