Publikace UTB
Repozitář publikační činnosti UTB

Nano-steganography using atomic force microscopy

Repozitář DSpace/Manakin


Find Full text Export to RefWorks
   


Soubory tohoto záznamu

Citace ČSN ISO 690:2011

Citace článku v konferenčním sborníku:
KUDĚLKA, Josef, Tomáš MARTÍNEK, Milan NAVRÁTIL a Vojtěch KŘESÁLEK. Nano-steganography using atomic force microscopy. In: 16th International Conference on Nanotechnology - IEEE NANO 2016 [online]. Sendai: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2016, s. 157-159. [cit. 2017-11-19]. Dostupné z: http://ieeexplore.ieee.org/document/7751451/.

Tyto citace vytvořil software a mohou obsahovat chyby. Pro ověření přesnosti si nastudujte příslušnou citační normu nebo příručku.

Související články