Publikace UTB
Repozitář publikační činnosti UTB

Quality control in microelectronics using scanning probe microscopy

Repozitář DSpace/Manakin


Find Full text Export to RefWorks
   


Soubory tohoto záznamu

Citace ČSN ISO 690:2011

Citace článku v časopise:
KUDĚLKA, Josef, Tomáš MARTÍNEK, Milan NAVRÁTIL a Vojtěch KŘESÁLEK. Quality control in microelectronics using scanning probe microscopy. 2016 21st International Conference on Microwave, Radar and Wireless Communications, MIKON 2016 [online]. 2016 [cit. 2017-11-24]. Dostupné z: http://ieeexplore.ieee.org/document/7492107/?arnumber=7492107.

Tyto citace vytvořil software a mohou obsahovat chyby. Pro ověření přesnosti si nastudujte příslušnou citační normu nebo příručku.

Související články