Snímání povrchu pomocí mikrovlnného mikroskopu

Křesálek, Vojtěch; Navrátil, Milan

dc.title	Snímání povrchu pomocí mikrovlnného mikroskopu	cs
dc.title	Surface scanning with microwave mircoscope	en
dc.contributor.author	Křesálek, Vojtěch
dc.contributor.author	Navrátil, Milan
dc.relation.ispartof	Jemná mechanika a optika
dc.identifier.issn	0447-6441 Scopus Sources, Sherpa/RoMEO, JCR
dc.date.issued	2005
utb.relation.volume	50
utb.relation.issue	11-12
dc.citation.spage	319
dc.citation.epage	321
dc.type	article
dc.language.iso	cs
dc.publisher	Fyzikální ústav Akademie věd České republiky (FZÚ)	cs
dc.subject	mikrovlnný mikroskop	cs
dc.subject	rezonátor	cs
dc.subject	řízení posuvů	cs
dc.subject	microwave microscope	en
dc.subject	resonator	en
dc.subject	movements controll	en
dc.description.abstract	Cílem práce bylo naměřit rezonanční křivky koaxiálního rezonátoru při skenování vodivého reliéfu a vytvořit z nich obraz povrchu. Rezonanční charakteristiky byly měřeny spektrálním analyzátorem FSH3 od firmy Rohde&Schwarz. Pro vyhodnocení naměřených dat byly vytvořeny programy v programovém prostředí MATLAB. Pro ověření funkčnosti výše uvedené laboratorní sestavy mikrovlnného mikroskopu bylo provedeno několik zkušebních měření a následné vytvoření obrazů.	cs
dc.description.abstract	The aim of this work was to measure the resonant curves of coaxial resonator during scanning of conducting relief. Relief of surface was created on the basis of measured curves. Resonance response of n.?/4 resonator was measured with spectral analyser FSH3 (Rohde&Schwarz). User programs were created in MATLAB software. Some trials were carried out for verification of mentioned laboratory microwave microscope kit.	en
utb.faculty	Faculty of Technology
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/10563/1000493
utb.identifier.rivid	RIV/70883521:28110/05:63504074
utb.identifier.obdid	14053488
utb.source	j-riv
utb.contributor.internalauthor	Křesálek, Vojtěch
utb.contributor.internalauthor	Navrátil, Milan