Publikace UTB
Repozitář publikační činnosti UTB

Kelvin Probe Force Microscopy and Calculation of Charge Transport in a Graphene/Silicon Dioxide System at Different Relative Humidity

Repozitář DSpace/Manakin


Find Full text Export to RefWorks
   

 

Soubory tohoto záznamu

Citace ČSN ISO 690:2011

Citace článku v časopise:
KONEČNÝ, Martin, Miroslav BARTOŠÍK, Jindřich MACH, Vojtěch ŠVARC, David NEZVAL, Jakub PIASTEK, Pavel PROCHÁZKA, Aleš CAHLÍK a Tomáš ŠIKOLA. Kelvin Probe Force Microscopy and Calculation of Charge Transport in a Graphene/Silicon Dioxide System at Different Relative Humidity. ACS Applied Materials and Interfaces [online]. 2018, vol. 10, iss. 14, s. 11987-11994. [cit. 2018-06-24]. ISSN 1944-8244. Dostupné z: https://pubs.acs.org/doi/abs/10.1021/acsami.7b18041.

Tyto citace vytvořil software a mohou obsahovat chyby. Pro ověření přesnosti si nastudujte příslušnou citační normu nebo příručku.

Související články