Publikace UTB
Repozitář publikační činnosti UTB

Nanoscale characterization of ultra-thin tungsten films deposited by radio-frequency magnetron sputtering

Repozitář DSpace/Manakin


Find Full text Export to RefWorks
   


Soubory tohoto záznamu

Citace ČSN ISO 690:2011

Citace článku v konferenčním sborníku:
MARTÍNEK, Tomáš, Josef KUDĚLKA, Milan NAVRÁTIL, Vojtěch KŘESÁLEK, Antonín FEJFAR, Matěj HÝVL a Jaroslav SOBOTA. Nanoscale characterization of ultra-thin tungsten films deposited by radio-frequency magnetron sputtering. In: IEEE-NANO 2015 - 15th International Conference on Nanotechnology [online]. Rome: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2015, s. 510-513. [cit. 2017-11-18]. Dostupné z: http://ieeexplore.ieee.org/document/7388651/.

Tyto citace vytvořil software a mohou obsahovat chyby. Pro ověření přesnosti si nastudujte příslušnou citační normu nebo příručku.

Související články