TBU Publications
Repository of TBU Publications

Elektrická pevnost tenkých polyanilínových filmů

DSpace Repository

Show simple item record


dc.title Elektrická pevnost tenkých polyanilínových filmů cs
dc.title Electrical strength of thin polyaniline films en
dc.contributor.author Kuzmin, Sergey
dc.contributor.author Sáha, Petr
dc.contributor.author Sudar, Nikolay
dc.contributor.author Zakrevskii, Vladimir
dc.contributor.author Sapurina, Irina Yu.
dc.contributor.author Solosin, Sergey
dc.contributor.author Trchová, Miroslava
dc.contributor.author Stejskal, Jaroslav
dc.relation.ispartof Thin Solid Films
dc.identifier.issn 0040-6090 OCLC, Ulrich, Sherpa/RoMEO, JCR
dc.date.issued 2008
utb.relation.volume 516
utb.relation.issue 8
dc.citation.spage 2181
dc.citation.epage 2187
dc.type article
dc.language.iso en
dc.publisher Elsevier Science SA en
dc.identifier.doi 10.1016/j.tsf.2007.07.138
dc.relation.uri https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S004060900701259X
dc.subject dielektrický průraz cs
dc.subject elektrická pevnost cs
dc.subject polyanilin cs
dc.subject tenké filmy cs
dc.subject Dielectric breakdown en
dc.subject electrical strength en
dc.subject polyaniline en
dc.subject thin films en
dc.description.abstract Elektrická pevnost polyanilínových filmů polymerovaných in-situ převedených do nevodivé báze polyanilinu byla porovnána s pevností roztoku polystyrenu a polymetylmetakrylátových filmů v tloušťkách sub-mikronů. Elektrická životnost polyanilínových filmů exponenciálně klesá s rostoucí elektrickou pevností pole. Elektrická pevnost při průrazu roste s rostoucí mírou tvorby elektrického pole. Plocha průrazu polyanilínového filmu byla charakterizována Ramanovou spektroskopii. Výsledkem bylo, že Joulovo teplo způsobuje degradaci polyanilínu s následným odpařením fragmentů z řetězce při průrazu. cs
dc.description.abstract The electrical strength of in-situ polymerized polyaniline films converted to non-conducting polyaniline base has been compared with the strength of solution-cast polystyrene and poly(methyl methacrylate) films of sub-micrometre thickness. The electrical lifetime of polyaniline film exponentially decreases with the growing electric-field strength. The electric-field strength at breakdown increases with increasing rate of electric field build-up. The breakdown areas in polyaniline films have been characterized by Raman spectroscopy. As a result, the Joule heat causes the degradation of polyaniline followed by the evaporation of chain fragments in the breakdown area. en
utb.faculty Faculty of Technology
dc.identifier.uri http://hdl.handle.net/10563/1000941
utb.identifier.rivid RIV/70883521:28110/08:63507346!RIV09-MSM-28110___
utb.identifier.obdid 43857405
utb.identifier.scopus 2-s2.0-38649107378
utb.identifier.wok 000253872200084
utb.source j-riv
utb.contributor.internalauthor Kuzmin, Sergey
utb.contributor.internalauthor Sáha, Petr
Find Full text

Files in this item

Show simple item record