Kontaktujte nás | Jazyk: čeština English
Název: | Snímání povrchu pomocí mikrovlnného mikroskopu |
Autor: | Křesálek, Vojtěch; Navrátil, Milan |
Typ dokumentu: | Recenzovaný odborný článek (Czech) |
Zdrojový dok.: | Jemná mechanika a optika. 2005, vol. 50, issue 11-12, p. 319-321 |
ISSN: | 0447-6441 (Sherpa/RoMEO, JCR) |
Abstrakt: | Cílem práce bylo naměřit rezonanční křivky koaxiálního rezonátoru při skenování vodivého reliéfu a vytvořit z nich obraz povrchu. Rezonanční charakteristiky byly měřeny spektrálním analyzátorem FSH3 od firmy Rohde&Schwarz. Pro vyhodnocení naměřených dat byly vytvořeny programy v programovém prostředí MATLAB. Pro ověření funkčnosti výše uvedené laboratorní sestavy mikrovlnného mikroskopu bylo provedeno několik zkušebních měření a následné vytvoření obrazů. |
Zobrazit celý záznam |