Publikace UTB
Repozitář publikační činnosti UTB

Thickness Effect on Structural Defect-Related Density of States and Crystallinity in P3HT Thin Films on ITO Substrates

Repozitář DSpace/Manakin


Find Full text Export to RefWorks
   

 

Soubory tohoto záznamu

Citace ČSN ISO 690:2011

Citace článku v časopise:
NÁDAŽDY, Vojtech, Katarina GMUCOVÁ, Peter NÁDAŽDY, Peter SIFFALOVIC, Karol VEGSO, Matej JERGEL, František SCHAUER a Eva MAJKOVÁ. Thickness Effect on Structural Defect-Related Density of States and Crystallinity in P3HT Thin Films on ITO Substrates. Journal of Physical Chemistry C [online]. 2018, vol. 122, iss. 11, s. 5881-5887. [cit. 2018-12-11]. ISSN 1932-7447. Dostupné z: https://pubs.acs.org/doi/10.1021/acs.jpcc.7b11651.

Tyto citace vytvořil software a mohou obsahovat chyby. Pro ověření přesnosti si nastudujte příslušnou citační normu nebo příručku.

Související články